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https://laboutique.edpsciences.fr/editeur/12/GN-MEBA
Summary of the book in English then in French
English:
Scanning electron microscopy and associated microanalyses are involved in a wide variety of fields, both in academic and industrial environments. All the theoretical bases, the main technical characteristics, as well as practical supplements of use and maintenance related to these disciplines are developed in this book. The electron microscopes under high vacuum or controlled vacuum are exposed deeply, the micro-analyzes EDS and WDS of the last generations also. In addition to these structural pillars, other analytical or observation techniques, such as EBSD and 3D imaging, FIB, Monte Carlo simulations and in-situ tests, are discussed.
This unique volume is completely new volume of nearly 1000 pages, as regards to a previous edition of 1979, which is now out of print. It brings together the courses taught at the Saint Martin d'Hères summer school in 2006, organized by the National Group of Scanning Electron Microscopy and microAnalyses (GN-MEBA). This book is particularly recommended for experimenters but will also be of interest to materials scientists (hard or soft, conductors or non-conductors, laminates, etc.) wishing to invest themselves in all these imaging and analysis techniques, to fully exploit their potential strengths. It has been written by summer school teachers, all researchers or engineers and specialists in their field.
This work is part of a collection of GN-MEBA publications devoted to principles, experimental techniques and calculation and simulation methods in Scanning Electron Microscopy and Microanalyses.
Français
La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L’ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. A coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc.
Ce volume en langue française, unique, est la version actualisée, et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée. Il regroupe, sur environ 1000 pages, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine.
Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.